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日本KETT|LZ-990型小型膜厚計(jì)|涂層測(cè)厚儀
日本KETT|LZ-990型小型膜厚計(jì)|涂層測(cè)厚儀
| 品牌：日本KETT | 加工定制：否 | 型號(hào)：KETT LZ-990 | ||||
| 類型：手持式 | 測(cè)量范圍：0 ～ 2000μm mm | 顯示方式：數(shù)字 | ||||
| 電源電壓：電池1.5V V | 外形尺寸：82×99.5×32 mm |
產(chǎn)品特性：日本KETT膜厚計(jì)代理,KETT膜厚計(jì)LZ-990,日本KETT中國(guó)總代理,手持式膜厚計(jì)LZ-990
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：品牌:日本KETT ;加工定制:否 ;型號(hào):KETT LZ-990 ;類型:手持式 ;測(cè)量范圍:0 ～ 2000μm mm;顯示方式:數(shù)字 ;電源電壓:電池1.5V V;外形尺寸:82×99.5×32 mm
深圳市新朗普電子科技有限公司
詳細(xì)介紹：
日本KETT|LZ-990型小型膜厚計(jì)|涂層測(cè)厚儀
特點(diǎn):
1.本儀器是KETT品牌*新款雙用一體機(jī),,機(jī)型小巧,方便攜帶,性能穩(wěn)定,功能廣泛的實(shí)用型機(jī).有較高的性價(jià)比.
2．對(duì)磁性和渦流的測(cè)定方式有自動(dòng)識(shí)別轉(zhuǎn)換功能,無(wú)需人工調(diào)整.有4種語(yǔ)言顯示及儲(chǔ)存功能等.
3.探頭上配有曲面器可測(cè)圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測(cè)量平面及小面積的工件.
| ●仕様 | LZ-990「エスカル」 |
|---|---|
| 測(cè)定方式 | 電磁・渦電流式兼用（自動(dòng)判別機(jī)能付き） |
| 測(cè)定対象 |
磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の 絶縁被膜 |
| 測(cè)定範(fàn)囲 | 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils |
| 測(cè)定精度 |
50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％ |
| 適合規(guī)格 |
電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
| 分解能 | 100μm未満0.1μm100μm以上1μm |
| 表示方法 | デジタル（バックライト付LCD、表示*小桁0.1μm） |
| データメモリ | 約1000點(diǎn) |
| アプリケーション メモリ | 電磁式・渦電流式各8種 計(jì)16本の検量線を記憶 |
| 電源 | 電池1.5V （単4 アルカリ）× 2 |
| 消費(fèi)電力 | 40mW（バックライト非點(diǎn)燈時(shí)） |
| 使用溫度範(fàn)囲 | 0 ～ 40℃ |
| 機(jī)能 | 検量線メモリ（アプリケーション・メモリ）、測(cè)定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動(dòng)電源ON/OFF、機(jī)能、時(shí)計(jì)機(jī)能、上下限設(shè)定、統(tǒng)計(jì)計(jì)算、バックライト機(jī)能、単位設(shè)定、等の各種機(jī)能15 種 |
| 外部出力 | パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能 |
| 寸法・質(zhì)量 | 82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g |
| 付屬品 | ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標(biāo)準(zhǔn)板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ |
| オプション | 標(biāo)準(zhǔn)板（付屬品以外の厚さ）、測(cè)定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護(hù)カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」 |
- 技術(shù)參數(shù):
-
日本文簡(jiǎn)介：
デュアルタイプ膜厚計(jì)LZ-990「エスカル」はシンプルな小型膜厚計(jì)です。しかしながら膜厚管理に必要な機(jī)能は充実し、アプリケーション・メモリ（検量線メモリ）機(jī)能、測(cè)定データ・メモリ、膜厚管理の上下限設(shè)定、簡(jiǎn)単な統(tǒng)計(jì)処理、データ出力など15種の機(jī)能を裝備しています。磁性金屬に施された被膜厚測(cè)定と、非磁性金屬に施された被膜厚等の測(cè)定が可能です。しかも、素材を判別しその測(cè)定モードへ自動(dòng)的に切り替わります。プリンタや測(cè)定スタンド、外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています。
